Thin Film and Depth Profile Analysis
H. Oechsner
เจฎเจพเจฐเจ 2013 ยท Topics in Current Physics เจเจฟเจคเจพเจฌ 37 ยท Springer Science & Business Media
5.0star
1 เจธเจฎเฉเจเจฟเจreport
เจ-เจเจฟเจคเจพเจฌ
208
เจชเฉฐเจจเฉ
reportเจฐเฉเจเจฟเฉฐเจเจพเจ เจ
เจคเฉ เจธเจฎเฉเจเจฟเจเจตเจพเจ เจฆเฉ เจชเฉเจธเจผเจเฉ เจจเจนเฉเจ เจเฉเจคเฉ เจเจ เจนเฉ ย เจนเฉเจฐ เจเจพเจฃเฉ
เจเจธ เจ-เจเจฟเจคเจพเจฌ เจฌเจพเจฐเฉ
The characterization of thin films and solid interfaces as well as the determina tion of concentration profiles in thin solid layers is one of the fields which re quire a rapid transfer of the results from basic research to technological applica tions and developments. It is the merit of the Dr. Wilhelm Heinrich and Else Heraeus-Stiftung to promote such a transfer by organizing high standard seminars mostly held at the "Physikzentrum" in Bad Honnef near Bonn. The present book has been stimulated by one of these seminars assembling most of the invited speakers as co-authors. The editor appreciates the cooperation of his colleagues contributing to this book. H. Oechsner Kaiserslautern, April 1984 v Contents 1. Introduction. ByH. Oechsner . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1. 1 Requirements for Thin Film and In-Depth Analysis . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 1. 2 Object and Outl i ne of the Book . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2 4 References 2. The Application of Beam and Diffraction Techniques to Thin Film and Surface Micro-Analysis. By H. W. Werner (With 25 Fi gures) . . . . . . . . . . . . . . . . 5 2. 1 Methods to Determine Chemical Structures in Material Research 5 2. 2 Selected Analytical Features Used to Determine Chemical Structures 9 2. 2. 1 Depth Profi 1 ing . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 9 9 a) Destructive Depth Profiling b) Nondestructive Methods for Depth and Thin Film Analysis 15 19 2. 2. 2 Microspot Analysis and Element Imaging 2. 3 Determining Physical Structures in Material Research . . . . . . . . . . . . . . . 27 2. 3. 1 X-Ray Diffraction . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .. . . . . . . . . . . . . . . . . 27 2. 3. 2 X-Ray Double Crystal Diffraction . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 28 2. 3.
เจฐเฉเจเจฟเฉฐเจเจพเจ เจ เจคเฉ เจธเจฎเฉเจเจฟเจเจตเจพเจ
5.0
1 เจธเจฎเฉเจเจฟเจ
เจเจธ เจ-เจเจฟเจคเจพเจฌ เจจเฉเฉฐ เจฐเฉเจ เจเจฐเฉ
เจเจชเจฃเฉ เจตเจฟเจเจพเจฐ เจฆเฉฑเจธเฉ
เจชเฉเฉเจนเจจ เจธเฉฐเจฌเฉฐเจงเฉ เจเจพเจฃเจเจพเจฐเฉ
เจธเจฎเจพเจฐเจเจซเจผเฉเจจ เจ
เจคเฉ เจเฉเจฌเจฒเฉเฉฑเจ
Google Play Books เจเจช เจจเฉเฉฐ Android เจ
เจคเฉ iPad/iPhone เจฒเจ เจธเจฅเจพเจชเจค เจเจฐเฉเฅค เจเจน เจคเฉเจนเจพเจกเฉ เจเจพเจคเฉ เจจเจพเจฒ เจธเจตเฉเจเจฒเจฟเจค เจคเฉเจฐ 'เจคเฉ เจธเจฟเฉฐเจ เจเจฐเจฆเฉ เจนเฉ เจ
เจคเฉ เจคเฉเจนเจพเจจเฉเฉฐ เจเจฟเจคเฉเจ เจตเฉ เจเจจเจฒเจพเจเจจ เจเจพเจ เจเจซเจผเจฒเจพเจเจจ เจชเฉเฉเจนเจจ เจฆเจฟเฉฐเจฆเฉ เจนเฉเฅค
เจฒเฉเจชเจเจพเจช เจ
เจคเฉ เจเฉฐเจชเจฟเจเจเจฐ
เจคเฉเจธเฉเจ เจเจชเจฃเฉ เจเฉฐเจชเจฟเจเจเจฐ เจฆเจพ เจตเฉเฉฑเจฌ เจฌเฉเจฐเจพเจเจเจผเจฐ เจตเจฐเจคเจฆเฉ เจนเฉเจ Google Play 'เจคเฉ เจเจฐเฉเจฆเฉเจเจ เจเจเจเจ เจเจกเฉเจ-เจเจฟเจคเจพเจฌเจพเจ เจธเฉเจฃ เจธเจเจฆเฉ เจนเฉเฅค
eReaders เจ
เจคเฉ เจนเฉเจฐ เจกเฉเจตเจพเจเจธเจพเจ
e-ink เจกเฉเจตเจพเจเจธเจพเจ 'เจคเฉ เจชเฉเฉเจนเจจ เจฒเจ เจเจฟเจตเฉเจ Kobo eReaders, เจคเฉเจนเจพเจจเฉเฉฐ เฉเจพเจเจฒ เจกเจพเจเจจเจฒเฉเจก เจเจฐเจจ เจ
เจคเฉ เจเจธเจจเฉเฉฐ เจเจชเจฃเฉ เจกเฉเจตเจพเจเจธ 'เจคเฉ เจเฉเจฐเจพเจเจธเจซเจฐ เจเจฐเจจ เจฆเฉ เจฒเฉเฉ เจนเฉเจตเฉเจเฉเฅค เจธเจฎเจฐเจฅเจฟเจค eReaders 'เจคเฉ เฉเจพเจเจฒเจพเจ เจเฉเจฐเจพเจเจธเจซเจฐ เจเจฐเจจ เจฒเจ เจตเฉเจฐเจตเฉ เจธเจนเจฟเจค เจฎเจฆเจฆ เจเฉเจเจฆเจฐ เจนเจฟเจฆเจพเจเจคเจพเจ เจฆเฉ เจชเจพเจฒเจฃเจพ เจเจฐเฉเฅค
