Progress in Materials Analysis: Vol. 2
M. Grasserbauer · W. Wegscheider
2012 թ. դեկ · Mikrochimica Acta Supplementa Գիրք 11 · Springer Science & Business Media
Էլ. գիրք
382
Էջեր
reportԳնահատականները և կարծիքները չեն ստուգվում Իմանալ ավելին
Այս էլ․ գրքի մասին
Vol. 2 of "Progress in Materials Analysis" contains the lectures of the 12th Colloquium on Materials Analysis, Vienna, May 13-15, 1985. Due to the top level international participation from industry and research insti tutions the proceedings offer a survey of the present state and current trends in materials analysis of high actuality. The major topics covered are surface, micro and trace analysis of materials with a special emphasis on metals but also including other materials like ceramics, semiconductors, polymers. According to the strategy of the meeting attention is focussed on an interdisciplinary approach to materials science - combining analytical chemistry, solid state physics and technol ogy. Therefore progress reports on modern analytical technique like SIMS, SNMS, AES, XPS, Positron Annihilation Spectroscopy, EPMA, STEM, LAMMS, etc. are contained as well as presentations on the development of materials. The majority of the contributions centers on the treatment of important problems in materials science and technology by a (mostly sophisticated) combination of physical and chemical analytical techniques. Vienna, July 1985 M. Grasserbauer Contents Page Hercules, D. M. Surface Characterization of Thin Organic Films on Metals ............................................. .
Գնահատեք էլ․ գիրքը
Կարծիք հայտնեք։
Տեղեկություններ
Սմարթֆոններ և պլանշետներ
Տեղադրեք Google Play Գրքեր հավելվածը Android-ի և iPad/iPhone-ի համար։ Այն ավտոմատ համաժամացվում է ձեր հաշվի հետ և թույլ է տալիս կարդալ առցանց և անցանց ռեժիմներում:
Նոթբուքներ և համակարգիչներ
Դուք կարող եք լսել Google Play-ից գնված աուդիոգրքերը համակարգչի դիտարկիչով:
Գրքեր կարդալու սարքեր
Գրքերը E-ink տեխնոլոգիան աջակցող սարքերով (օր․՝ Kobo էլեկտրոնային ընթերցիչով) կարդալու համար ներբեռնեք ֆայլը և այն փոխանցեք ձեր սարք։ Մանրամասն ցուցումները կարող եք գտնել Օգնության կենտրոնում։
