Nondestructive Evaluation of Semiconductor Materials and Devices
J. Zemel
thg 11 2013 · NATO Science Series B Sách 46 · Springer Science & Business Media
Sách điện tử
782
Trang
reportĐiểm xếp hạng và bài đánh giá chưa được xác minh Tìm hiểu thêm
Giới thiệu về sách điện tử này
From September 19-29, a NATO Advanced Study Institute on Non destructive Evaluation of Semiconductor Materials and Devices was held at the Villa Tuscolano in Frascati, Italy. A total of 80 attendees and lecturers participated in the program which covered many of the important topics in this field. The subject matter was divided to emphasize the following different types of problems: electrical measurements; acoustic measurements; scanning techniques; optical methods; backscatter methods; x-ray observations; accele rated life tests. It would be difficult to give a full discussion of such an Institute without going through the major points of each speaker. Clearly this is the proper task of the eventual readers of these Proceedings. Instead, it would be preferable to stress some general issues. What came through very clearly is that the measurements of the basic scientists in materials and device phenomena are of sub stantial immediate concern to the device technologies and end users.
Xếp hạng sách điện tử này
Cho chúng tôi biết suy nghĩ của bạn.
Đọc thông tin
Điện thoại thông minh và máy tính bảng
Cài đặt ứng dụng Google Play Sách cho Android và iPad/iPhone. Ứng dụng sẽ tự động đồng bộ hóa với tài khoản của bạn và cho phép bạn đọc trực tuyến hoặc ngoại tuyến dù cho bạn ở đâu.
Máy tính xách tay và máy tính
Bạn có thể nghe các sách nói đã mua trên Google Play thông qua trình duyệt web trên máy tính.
Thiết bị đọc sách điện tử và các thiết bị khác
Để đọc trên thiết bị e-ink như máy đọc sách điện tử Kobo, bạn sẽ cần tải tệp xuống và chuyển tệp đó sang thiết bị của mình. Hãy làm theo hướng dẫn chi tiết trong Trung tâm trợ giúp để chuyển tệp sang máy đọc sách điện tử được hỗ trợ.
