Noncontact Atomic Force Microscopy
S. Morita · Roland Wiesendanger · E. Meyer
dec. 2012 · Springer Science & Business Media
E-bog
440
Sider
reportBedømmelser og anmeldelser verificeres ikke Få flere oplysninger
Om denne e-bog
Since 1995, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. Based on nanomechanical methods, the NC-AFM detects the weak attractive force between the tip of a cantilever and a sample surface. This method has the following characteristics: it has true atomic resolution; it can measure atomic force interactions, i.e. it can be used in so-called atomic force spectroscopy (AFS); it can also be used to study insulators; and it can measure mechanical responses such as elastic deformation. This is the first book that deals with all of the emerging NC-AFM issues.
Bedøm denne e-bog
Fortæl os, hvad du mener.
Oplysninger om læsning
Smartphones og tablets
Installer appen Google Play Bøger til Android og iPad/iPhone. Den synkroniserer automatisk med din konto og giver dig mulighed for at læse online eller offline, uanset hvor du er.
Bærbare og stationære computere
Du kan høre lydbøger, du har købt i Google Play via browseren på din computer.
e-læsere og andre enheder
Hvis du vil læse på e-ink-enheder som f.eks. Kobo-e-læsere, skal du downloade en fil og overføre den til din enhed. Følg den detaljerede vejledning i Hjælp for at overføre filerne til understøttede e-læsere.
