Single crystalline, μm-sized cantilevers are fabricated out of epitaxially grown Ag thin films by a lithography-based procedure and are deflected by a nanoindenter system. The microstructure of the plastically deformed cantile-vers is investigated using transmission Kikuchi diffraction (TKD) on the cantilever cross section. 3D discrete dislocation dynamics simulations (DDD) are performed for further analysis. A mechanism to explain the formation of dislocation networks upon loading is suggested.
ຊຸດ
ການຈັດອັນດັບ ແລະ ຄຳຕິຊົມ
5,0
1 ຄຳຕິຊົມ
5
4
3
2
1
ໃຫ້ຄະແນນ e-book ນີ້
ບອກພວກເຮົາວ່າທ່ານຄິດແນວໃດ.
ອ່ານຂໍ້ມູນຂ່າວສານ
ສະມາດໂຟນ ແລະ ແທັບເລັດ
ຕິດຕັ້ງ ແອັບ Google Play Books ສຳລັບ Android ແລະ iPad/iPhone. ມັນຊິ້ງຂໍ້ມູນໂດຍອັດຕະໂນມັດກັບບັນຊີຂອງທ່ານ ແລະ ອະນຸຍາດໃຫ້ທ່ານອ່ານທາງອອນລາຍ ຫຼື ແບບອອບລາຍໄດ້ ບໍ່ວ່າທ່ານຈະຢູ່ໃສ.
ແລັບທັອບ ແລະ ຄອມພິວເຕີ
ທ່ານສາມາດຟັງປຶ້ມສຽງທີ່ຊື້ໃນ Google Play ໂດຍໃຊ້ໂປຣແກຣມທ່ອງເວັບຂອງຄອມພິວເຕີຂອງທ່ານໄດ້.