Dislocations in Solids: Volume 15
oct. 2009 · Dislocations in Solids Cartea 15 · Elsevier
Carte electronică
328
Pagini
family_home
Eligibilă
info
reportEvaluările și recenziile nu sunt verificate Află mai multe
Despre această carte electronică
Bacon and Osetsky present an atomistic model of dislocation-particle interactions in metal systems, including irradiated materials. This work is important in simulating actual behavior, removing earlier reliance on assumed mechanisms for dislocation motion. New mechanisms for dislocation generation under shock loading are presented by Meyers et al. These models provide a basis for understanding the constitutive behavior of shocked material. Saada and Dirras provide a new perspective on the Hall-Petch relation, with particular emphasis on nanocrystals. Of particular significance, deviations from the traditional stress proportional to the square-root of grain size relation are explained. Robertson et al consider a number of effects of hydrogen on plastic flow and provide a model that provides an explanation of the broad range of properties. - Flow stress of metal systems with particle hardening, including radiation effects - New model for dislocation kinetics under shock loading - Explanation of effects of nanoscale grain size on strength - Mechanism of hydrogen embrittlement in metal alloys
Evaluează cartea electronică
Spune-ne ce crezi.
Informații despre lectură
Smartphone-uri și tablete
Instalează aplicația Cărți Google Play pentru Android și iPad/iPhone. Se sincronizează automat cu contul tău și poți să citești online sau offline de oriunde te afli.
Laptopuri și computere
Poți să asculți cărțile audio achiziționate pe Google Play folosind browserul web al computerului.
Dispozitive eReader și alte dispozitive
Ca să citești pe dispozitive pentru citit cărți electronice, cum ar fi eReaderul Kobo, trebuie să descarci un fișier și să îl transferi pe dispozitiv. Urmează instrucțiunile detaliate din Centrul de ajutor pentru a transfera fișiere pe dispozitivele eReader compatibile.
