Defects in Microelectronic Materials and Devices
Daniel M. Fleetwood · Ronald D. Schrimpf
nov. 2008 · CRC Press
5,0star
1 recensionreport
E-bok
770
Sidor
family_home
Kvalificerad
info
reportBetyg och recensioner verifieras inte Läs mer
Om den här e-boken
Uncover the Defects that Compromise Performance and ReliabilityAs microelectronics features and devices become smaller and more complex, it is critical that engineers and technologists completely understand how components can be damaged during the increasingly complicated fabrication processes required to produce them.A comprehensive survey of defe
Betyg och recensioner
5,0
1 recension
Om författaren
Daniel M. Fleetwood, Sokrates T. Pantelides, Ronald D. Schrimpf
Betygsätt e-boken
Berätta vad du tycker.
Läsinformation
Smartphones och surfplattor
Installera appen Google Play Böcker för Android och iPad/iPhone. Appen synkroniseras automatiskt med ditt konto så att du kan läsa online eller offline var du än befinner dig.
Laptops och stationära datorer
Du kan lyssna på ljudböcker som du har köpt på Google Play via webbläsaren på datorn.
Läsplattor och andra enheter
Om du vill läsa boken på enheter med e-bläck, till exempel Kobo-läsplattor, måste du ladda ned en fil och överföra den till enheten. Följ anvisningarna i hjälpcentret om du vill överföra filerna till en kompatibel läsplatta.
