Defects in Microelectronic Materials and Devices
Daniel M. Fleetwood · Ronald D. Schrimpf
нов 2008. · CRC Press
5,0star
1 рецензијаreport
Е-књига
770
Страница
family_home
Испуњава услове
info
reportОцене и рецензије нису верификоване Сазнајте више
О овој е-књизи
Uncover the Defects that Compromise Performance and ReliabilityAs microelectronics features and devices become smaller and more complex, it is critical that engineers and technologists completely understand how components can be damaged during the increasingly complicated fabrication processes required to produce them.A comprehensive survey of defe
Оцене и рецензије
5,0
1 рецензија
О аутору
Daniel M. Fleetwood, Sokrates T. Pantelides, Ronald D. Schrimpf
Оцените ову е-књигу
Јавите нам своје мишљење.
Информације о читању
Паметни телефони и таблети
Инсталирајте апликацију Google Play књиге за Android и iPad/iPhone. Аутоматски се синхронизује са налогом и омогућава вам да читате онлајн и офлајн где год да се налазите.
Лаптопови и рачунари
Можете да слушате аудио-књиге купљене на Google Play-у помоћу веб-прегледача на рачунару.
Е-читачи и други уређаји
Да бисте читали на уређајима које користе е-мастило, као што су Kobo е-читачи, треба да преузмете фајл и пренесете га на уређај. Пратите детаљна упутства из центра за помоћ да бисте пренели фајлове у подржане е-читаче.
