Defects in Microelectronic Materials and Devices
Daniel M. Fleetwood · Ronald D. Schrimpf
nov. 2008 · CRC Press
5,0star
1 mnenjereport
E-knjiga
770
Strani
family_home
Primerno
info
reportOcene in mnenja niso preverjeni. Več o tem
O tej e-knjigi
Uncover the Defects that Compromise Performance and ReliabilityAs microelectronics features and devices become smaller and more complex, it is critical that engineers and technologists completely understand how components can be damaged during the increasingly complicated fabrication processes required to produce them.A comprehensive survey of defe
Ocene in mnenja
5,0
1 mnenje
O avtorju
Daniel M. Fleetwood, Sokrates T. Pantelides, Ronald D. Schrimpf
Ocenite to e-knjigo
Povejte nam svoje mnenje.
Informacije o branju
Pametni telefoni in tablični računalniki
Namestite aplikacijo Knjige Google Play za Android in iPad/iPhone. Samodejno se sinhronizira z računom in kjer koli omogoča branje s povezavo ali brez nje.
Prenosni in namizni računalniki
Poslušate lahko zvočne knjige, ki ste jih kupili v Googlu Play v brskalniku računalnika.
Bralniki e-knjig in druge naprave
Če želite brati v napravah, ki imajo zaslone z e-črnilom, kot so e-bralniki Kobo, morate prenesti datoteko in jo kopirati v napravo. Podrobna navodila za prenos datotek v podprte bralnike e-knjig najdete v centru za pomoč.
