Defects in Microelectronic Materials and Devices
Daniel M. Fleetwood · Ronald D. Schrimpf
stu 2008. · CRC Press
5,0star
1 recenzijareport
E-knjiga
770
str.
family_home
Ispunjava uvjete
info
reportOcjene i recenzije nisu potvrđene Saznajte više
O ovoj e-knjizi
Uncover the Defects that Compromise Performance and ReliabilityAs microelectronics features and devices become smaller and more complex, it is critical that engineers and technologists completely understand how components can be damaged during the increasingly complicated fabrication processes required to produce them.A comprehensive survey of defe
Ocjene i recenzije
5,0
1 recenzija
O autoru
Daniel M. Fleetwood, Sokrates T. Pantelides, Ronald D. Schrimpf
Ocijenite ovu e-knjigu
Recite nam što mislite.
Informacije o čitanju
Pametni telefoni i tableti
Instalirajte aplikaciju Google Play knjige za Android i iPad/iPhone. Automatski se sinkronizira s vašim računom i omogućuje vam da čitate online ili offline gdje god bili.
Prijenosna i stolna računala
Audioknjige kupljene na Google Playu možete slušati pomoću web-preglednika na računalu.
Elektronički čitači i ostali uređaji
Za čitanje na uređajima s elektroničkom tintom, kao što su Kobo e-čitači, trebate preuzeti datoteku i prenijeti je na svoj uređaj. Slijedite detaljne upute u centru za pomoć za prijenos datoteka na podržane e-čitače.
