Defects in Microelectronic Materials and Devices
Daniel M. Fleetwood · Ronald D. Schrimpf
nov 2008 · CRC Press
5,0star
1 arvustusreport
E-raamat
770
lehekülge
family_home
Sobilik
info
reportHinnangud ja arvustused pole kinnitatud. Lisateave
Teave selle e-raamatu kohta
Uncover the Defects that Compromise Performance and ReliabilityAs microelectronics features and devices become smaller and more complex, it is critical that engineers and technologists completely understand how components can be damaged during the increasingly complicated fabrication processes required to produce them.A comprehensive survey of defe
Hinnangud ja arvustused
5,0
1 arvustus
Teave autori kohta
Daniel M. Fleetwood, Sokrates T. Pantelides, Ronald D. Schrimpf
Hinnake seda e-raamatut
Andke meile teada, mida te arvate.
Lugemisteave
Nutitelefonid ja tahvelarvutid
Installige rakendus Google Play raamatud Androidile ja iPadile/iPhone'ile. See sünkroonitakse automaatselt teie kontoga ja see võimaldab teil asukohast olenemata lugeda nii võrgus kui ka võrguühenduseta.
Sülearvutid ja arvutid
Google Playst ostetud audioraamatuid saab kuulata arvuti veebibrauseris.
E-lugerid ja muud seadmed
E-tindi seadmetes (nt Kobo e-lugerid) lugemiseks peate faili alla laadima ja selle oma seadmesse üle kandma. Failide toetatud e-lugeritesse teisaldamiseks järgige üksikasjalikke abikeskuse juhiseid.
