Defects in Microelectronic Materials and Devices
Daniel M. Fleetwood · Ronald D. Schrimpf
nov 2008. · CRC Press
5,0star
1 recenzijareport
E-knjiga
770
Broj stranica
family_home
Prihvatljiva
info
reportOcjene i recenzije nisu potvrđene Saznajte više
O ovoj e-knjizi
Uncover the Defects that Compromise Performance and ReliabilityAs microelectronics features and devices become smaller and more complex, it is critical that engineers and technologists completely understand how components can be damaged during the increasingly complicated fabrication processes required to produce them.A comprehensive survey of defe
Ocjene i recenzije
5,0
1 recenzija
O autoru
Daniel M. Fleetwood, Sokrates T. Pantelides, Ronald D. Schrimpf
Ocijenite ovu e-knjigu
Recite nam šta mislite.
Informacije o čitanju
Pametni telefoni i tableti
Instalirajte aplikaciju Google Play Knjige za Android i iPad/iPhone uređaje. Aplikacija se automatski sinhronizira s vašim računom i omogućava vam čitanje na mreži ili van nje gdje god da se nalazite.
Laptopi i računari
Audio knjige koje su kupljene na Google Playu možete slušati pomoću web preglednika na vašem računaru.
Elektronički čitači i ostali uređaji
Da čitate na e-ink uređajima kao što su Kobo e-čitači, morat ćete preuzeti fajl i prenijeti ga na uređaj. Pratite detaljne upute Centra za pomoć da prenesete fajlove na podržane e-čitače.
