Defects in Microelectronic Materials and Devices
Daniel M. Fleetwood · Ronald D. Schrimpf
ኖቬም 2008 · CRC Press
5.0star
1 ግምገማreport
ኢ-መጽሐፍ
770
ገጾች
family_home
ብቁ
info
reportየተሰጡት ደረጃዎች እና ግምገማዎች የተረጋገጡ አይደሉም የበለጠ ለመረዳት
ስለዚህ ኢ-መጽሐፍ
Uncover the Defects that Compromise Performance and ReliabilityAs microelectronics features and devices become smaller and more complex, it is critical that engineers and technologists completely understand how components can be damaged during the increasingly complicated fabrication processes required to produce them.A comprehensive survey of defe
ደረጃዎች እና ግምገማዎች
5.0
1 ግምገማ
ስለደራሲው
Daniel M. Fleetwood, Sokrates T. Pantelides, Ronald D. Schrimpf
ለዚህ ኢ-መጽሐፍ ደረጃ ይስጡ
ምን እንደሚያስቡ ይንገሩን።
የንባብ መረጃ
ዘመናዊ ስልኮች እና ጡባዊዎች
የGoogle Play መጽሐፍት መተግበሪያውን ለAndroid እና iPad/iPhone ያውርዱ። ከእርስዎ መለያ ጋር በራስሰር ይመሳሰላል እና ባሉበት የትም ቦታ በመስመር ላይ እና ከመስመር ውጭ እንዲያነቡ ያስችልዎታል።
ላፕቶፖች እና ኮምፒውተሮች
የኮምፒውተርዎን ድር አሳሽ ተጠቅመው በGoogle Play ላይ የተገዙ ኦዲዮ መጽሐፍትን ማዳመጥ ይችላሉ።
ኢሪደሮች እና ሌሎች መሳሪያዎች
እንደ Kobo ኢ-አንባቢዎች ባሉ ኢ-ቀለም መሣሪያዎች ላይ ለማንበብ ፋይል አውርደው ወደ መሣሪያዎ ማስተላለፍ ይኖርብዎታል። ፋይሎቹን ወደሚደገፉ ኢ-አንባቢዎች ለማስተላለፍ ዝርዝር የእገዛ ማዕከል መመሪያዎቹን ይከተሉ።
